環(huán)境試驗國標(biāo)目錄
環(huán)境試驗國標(biāo)目錄
01 GB/T 9384-1997廣播收音機(jī)、廣播電視接收機(jī)、磁帶錄音機(jī)、聲頻功率放大器（擴(kuò)音機(jī)）的環(huán)境試驗要求和試驗方法
02 GB/T 9359-2001 水文儀器基本環(huán)境試驗條件及方法
03 GB/T 5170.9-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法#太陽輻射試驗設(shè)備
04 GB/T 5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法#鹽霧試驗設(shè)備
05 GB/T 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法#濕熱試驗設(shè)備
06 GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法#溫度試驗設(shè)備
07 GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法#總則
08 GB/T 5170.11-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法#腐蝕氣體試驗設(shè)備
09 GB/T 5170.10-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法#高低溫低氣壓試驗設(shè)備
10 GB/T 2424.25-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分：試驗導(dǎo)則地震試驗方法
11 GB/T 2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗導(dǎo)則
12 GB/T 2424.17-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#錫焊試驗導(dǎo)則
13 GB/T 2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#太陽輻射試驗導(dǎo)則
14 GB/T 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cb：設(shè)備用恒定濕熱
15 GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落
16 GB/T 2423.7-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法試驗Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）
17 GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞
18 GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊
19 GB/T 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ke：流動混合氣體腐蝕試驗
20 GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗
21 GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Fe：振動──正弦拍頻法
22 GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Ff：振動──時間歷程法
23 GB/T 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Fg：聲振
24 GB/T 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Ef：撞擊#擺錘
25 GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Z/ABDM：氣候順序
26 GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法試驗Eg：撞擊#彈簧錘
27 GB/T 2423.43-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動（Fc和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則
28 GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法
29 GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程#風(fēng)壓試驗方法
30 GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
31 GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗XA和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬
32 GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗U：引出端及整體安裝件強(qiáng)度
33 GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射
34 GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#試驗Q：密封
35 GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
36 GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗 試驗Kb：鹽霧，交變（nacl溶液）
37 GB/T 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導(dǎo)則：長霉
38 GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法試驗Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
39 GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Fdc：寬頻帶隨機(jī)振動──低再現(xiàn)性
40 GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Fdb：寬頻帶隨機(jī)振動──中再現(xiàn)性
41 GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Fda：寬頻帶隨機(jī)振動──高再現(xiàn)性
42 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
43 GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法#試驗Fd：寬頻帶隨機(jī)振動──一般要求
44 GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#第2部分：試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）
45 GB/T 2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗#術(shù)語
46 GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分：總則
47 GB/T 15430-1995 紅外探測器環(huán)境試驗方法
48 GB/T 15211-1994 報警系統(tǒng)環(huán)境試驗
49 GB/T 13951-1992 移動式平臺及海上設(shè)施用電工電子產(chǎn)品#環(huán)境試驗一般要求
50 GB/T 13543-1992 數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗方法
